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压电隔振前后的日立S-4800 SEM性能

日立s-4800 sem

下图是由位于俄亥俄州哥伦布市全国儿童医院内TMC SEM-Base®上经过隔振的日立S-4800扫描电子显微镜获得的“之前和之后”图像。以200,000x的放大倍率拍摄的纯金参考样品图像。尽管在剧烈振动的环境(大风天气下的第6楼)下,SEM-Base的分辨率仍在规格范围内。这两个图像分别在SEM-Base安装之前和之后拍摄。照片之间没有其他变量发生变化。

日立sem安装SEM-Base之前的图像
日立sem安装SEM-Base之后的图像

SEM-Base安装前(左)和后(右)的图像质量。每个图像的宽度为200 nm。


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